(1)利用仪器多功能，克服氧化皮等干扰。在钢铁及其他金属热处理及轧制中，经常形成氧化皮，氧化皮不断剥落脱离本体，氧化皮的温度往往比本体温度低很多。 而在氧化皮脱离本体瞬间，新的氧化皮尚未形成，显露出本体 (如钢板)的温度，应抓住这一瞬间测出钢板的温度。采用快速 反应、测量小目标的红外温度计，并选用最大值功能挡，适当选择设定时间，测量设定时间内的最大值，此最大值能反映本 体的温度。设定时间的选择要根据氧化皮剥落的情况决定，设定的时间太短，尚未剥落的氧化皮充满现场，不能测出本体的温度；设定的时间太长，仪器的动态反应速度太慢。又如沸腾 的金属液面，测量其瞬时值往往波动很大，而测量其平均值则 能正确反映液体的平均温度，同样取平均次数或取平均的时间 也要适当选择，因此一些现代辐射测温仪均具有瞬时值、平均 值、最大值、最小值、偏差值等功能，以便用户根据不同使用 情况，选择适当功能，正确测出目标的温度。
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物体的发射率影响物体发射率的因素很多，也相当复杂，不仅与温度、波长有关，而且与物体的材料入表面状态有关。在波长与温度相同条件下，即使用同一种材质制成的具有不同表面状态的物体，它们的光谱发射率也可能相差甚远。1.光谱发射率与波长变化的关系：金属的光谱发射率随着波长增加而减小，非金属的光谱的光谱发射率随着波长的增大而增大。2.发射率与温度的关系：金属的发射率随温度的升高而增加，非金属发射率随温度的升高而减小。3.发射击率与发射角度的关系：金属的定向发射率在偏离法线40度以内基本不变，等于法向发射击率；40-80度之间定向发射率随偏离角度增大量在接近90度时，发射率急剧减小。4.金属氧化物具的发射率特性：金属氧化物具有非金属发射率的特性，其发射率比原金属高得多。当金属表面形成氧化膜时，发射率迅速增加；且随着氧化膜层厚度增加，发射率增大，达到一定厚（10um）后则相当稳定,且表现为非金属的发射特性。5.發射率與表面粗糙度的關係：光線投射到表面會產生多次反射，因此，粗糙表面的吸收率比光潔表面的吸收率大。根據基爾霍夫定律粗糙表面的發射率大於光潔表面的發射率，金屬的發射率高，由於多次反射造成發射率增加較明顯」例如，鋁的光滑表而匚粗糙表面的发射率可相差3~4倍。但对于绝缘体，由于反射率低，粗糙度对发射率影响较小。
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辐射测温为非接触测温，在测量中常常受到外界干扰。这些干扰大致可分为光路中的干扰、外来光的干扰、发射率变化的干扰、环境温度变化和电磁方面的干扰， 其中环境温度变化及电磁方面的干扰，在设计和生产测温仪时应充分考虑。在应用中主要应保证仪器所允许的环境温度范围和对电源的要求，可以釆取一些如水冷套、稳压电源等措施，本文重点讨论来自光学方面的干扰。一、光路中的干扰一般把被测表面和辐射测温仪之间在测量上所必须通过的空间距离称作光路，例如，要测量轧制中的钢板表面温度，在钢板上经常生成一层氧化皮并不断剥落；为了冷却设备和产品，常常在被测表面上停留有水膜，在被测表面附近还经常存在着浓度化的水蒸气等；大气中还在CO2、CO、O2等有选择性吸收气体和尘埃等。这些都是光路中的干扰，如不考虑将会带来很大误差，甚至导致失去测量的意义！下面我们分几次简要介绍克服和减弱光路中各种干扰的办法。
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紅外線測溫原理：鏡頭解析度 D/S 過去曾有許多客戶詢問我們的產品該如何挑選型號，今天這一篇主要是介紹我們產品型錄上的光學路徑圖，其數字代表意義為何。圖片上的 D(Distance)代表紅外線測溫儀到被測物的距離，S(Spot Size)代表測量點的直徑，如果依照上圖距離 300mm為範例，就代表測量點為一個直徑20mm的圓大小。計算方式： D:S=15:1 300mm/15 =20mm (測量點直徑)
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近焦紅外線測溫儀近焦型號的紅外線測溫儀可用於測量小至1 mm的物體，可用在查找電氣機版和其他小物體的故障。
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遠距離鏡頭紅外線測溫儀远焦距红外测温仪推荐,最远可测15米外目标温度, 温度范围:0-1300℃ ,高分辨率配合FF镜头促使无论多远距离,测量目标光斑都不会变大,更好解决远距离测温难测温不准问题。详情可看：http://www.fshg.cn/ProductsStd_210.html
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